Imagerie de résistance électrique locale sur matériaux fragiles par microscopie à force atomique à pointe conductrice en mode contact intermittent - CentraleSupélec
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

Imagerie de résistance électrique locale sur matériaux fragiles par microscopie à force atomique à pointe conductrice en mode contact intermittent

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Frédéric Houzé  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-01317747

Soumis le : mercredi 18 mai 2016-18:40:01

Dernière modification le : lundi 25 novembre 2024-09:36:06

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01317747 , version 1 (18-05-2016)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01317747 , version 1

Citer

Aymeric Vecchiola, Pascal Chrétien, Karim Bouzehouane, Olivier Schneegans, Pierre Seneor, et al.. Imagerie de résistance électrique locale sur matériaux fragiles par microscopie à force atomique à pointe conductrice en mode contact intermittent. 19e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2016, Sochaux-Montbéliard, France. ⟨hal-01317747⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

UPMC CNRS CENTRALESUPELEC GEEPS PHEMADIC UNIV-PARIS-SACLAY SORBONNE-UNIVERSITE SU-SCIENCES ANR GS-ENGINEERING GS-PHYSIQUE INSTITUT-SCIENCES-LUMIERE UMPHY LAF
92 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More