Amorphous YBaCuO semiconducting thin films for radiation thermal detectors: migrating from IR to THz sensor optimal structure - CentraleSupélec
Communication Dans Un Congrès Année : 2017

Amorphous YBaCuO semiconducting thin films for radiation thermal detectors: migrating from IR to THz sensor optimal structure

Domaines

Optique / photonique Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci] Electromagnétisme Matériaux Micro et nanotechnologies/Microélectronique Electronique

Alain Kreisler  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-01633937

Soumis le : lundi 13 novembre 2017-15:31:00

Dernière modification le : vendredi 20 octobre 2023-16:53:43

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01633937 , version 1 (13-11-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01633937 , version 1

Citer

Xavier Galiano, Manjakavahoaka Razanoelina, David Alamarguy, Annick Dégardin, Masayoshi Tonouchi, et al.. Amorphous YBaCuO semiconducting thin films for radiation thermal detectors: migrating from IR to THz sensor optimal structure. Conference of the European Materials Science Society (E-MRS 2017), May 2017, Strasbourg, France. ⟨hal-01633937⟩

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