Electrical Scanning Probe Microscopy approaches to investigate nanomaterials, junction and devices - CentraleSupélec
Communication Dans Un Congrès Année : 2023

Electrical Scanning Probe Microscopy approaches to investigate nanomaterials, junction and devices

J Alvarez
Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris
CV

Domaines

Physique [physics] Sciences de l'ingénieur [physics]

Jose Alvarez  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-04787677

Soumis le : dimanche 17 novembre 2024-22:38:26

Dernière modification le : mardi 19 novembre 2024-03:18:26

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-04787677 , version 1 (17-11-2024)

Identifiants

  • HAL Id : hal-04787677 , version 1

Citer

J Alvarez. Electrical Scanning Probe Microscopy approaches to investigate nanomaterials, junction and devices. Journées Nationales du Photovoltaïque (JNPV 2023)RD, Dec 2023, DOURDAN, France. ⟨hal-04787677⟩

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