Calibrating Resistance Measurements in Conductive Probe Atomic Force Microscopy: development of the first universal standard sample - CentraleSupélec Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2023

Calibrating Resistance Measurements in Conductive Probe Atomic Force Microscopy: development of the first universal standard sample

Fichier principal
Vignette du fichier
Abstract_resistance standard_vf.pdf (298.96 Ko) Télécharger le fichier
Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Dates et versions

hal-04230175 , version 1 (05-10-2023)

Identifiants

  • HAL Id : hal-04230175 , version 1

Citer

François Piquemal, Khaled Kaja, Pascal Chrétien, José A. Morán-Meza, Frédéric Houzé, et al.. Calibrating Resistance Measurements in Conductive Probe Atomic Force Microscopy: development of the first universal standard sample. Nanoscale 2023 : 13th Seminar on Quantitative Microscopy (QM) and 9th Seminar on Nanoscale Calibration, Standards and Methods, Oct 2023, Helsinki (Finland), Finland. pp.77-78. ⟨hal-04230175⟩
19 Consultations
10 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More